Peak inspektionsmikroskop med stativ 75x, synfält ø1,1 mm, arbetsavstånd 11,7 mm, mätområde 1,0 mm, gradering 0,01 mm, dimensioner ø41,5×122 mm, vikt 83 g, levereras i fodral med standardskala
Peak inspektionsmikroskop med stativ 75x, synfält ø1,1 mm, arbetsavstånd 11,7 mm, mätområde 1,0 mm, gradering 0,01 mm, dimensioner ø41,5×122 mm, vikt 83 g, levereras i fodral med standardskala
 

Peak inspektionsmikroskop med stativ 75x, synfält ø1,1 mm, arbetsavstånd 11,7 mm, mätområde 1,0 mm, gradering 0,01 mm, dimensioner ø41,5×122 mm, vikt 83 g, levereras i fodral med standardskala

2.116 kr

Artikelnr: 64-905251 Kategori:
 

Beskrivning

Ytterligare information

Vikt0,185 kg

Recensioner

Det finns inga recensioner än.

Bli först med att recensera ”Peak inspektionsmikroskop med stativ 75x, synfält ø1,1 mm, arbetsavstånd 11,7 mm, mätområde 1,0 mm, gradering 0,01 mm, dimensioner ø41,5×122 mm, vikt 83 g, levereras i fodral med standardskala”

Din e-postadress kommer inte publiceras. Obligatoriska fält är märkta *

Relaterade produkter